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FF70 CL 荣获墨西哥技术奖

作者:安賽斯   时间:2020-02-27   累积关注:640 次


FF70 CL 2D-3D X射线荣获墨西哥技术奖

瑞士技术控股彗星集团的公司欣然宣布,其FF70 CL最高分辨率的先进2D3D X射线技术在X射线检查领域赢得了著名的墨西哥技术奖。该奖项是在20191023日星期三SMTA瓜达拉哈拉博览会和技术论坛期间举行的颁奖典礼上颁发的。

半导体制造需要自动化,高质量,可靠,快速且无损的检查和分析,以实现最佳生产,因为可以在晶圆,基板,子组件中的条带或最终设备中发现缺陷。全新开发的新型 FF70 CL X射线检查系统可以对这些样品中最小和最苛刻的特征进行最佳自动化分析。结果:出色的精确度和可重复性的卓越测试和检查。

   FF70 CL
的特点是其较大的检测区域为510 x 610毫米,极端细节体积的可检测性小于0.3 µm³,使其非常适合自动和非破坏性地分析3D IC,倒装芯片中的焊料凸点和填充通孔和晶圆。

   FF70 CL
2D(自上而下)的高性能平板电脑提供了3DCL计算的Laminography)自动分析功能,在特殊的操作组件中使用高分辨率图像增强器对其倾斜旋转进行了分析。

   墨西哥技术奖表彰了墨西哥电子制造业中最好的新发明。奖励计划的目的是表彰那些达到最高标准并推动行业前进的公司和人员。







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