新闻活动

FF70 CL荣获2019年X射线检查类全球技术奖

作者:安賽斯   时间:2020-02-27   累积关注:415 次


瑞士技术控股彗星集团的公司荣幸地宣布,凭借其FF70 CL高分辨率2D3D X射线,它被授予2019X射线检查类全球技术奖。该奖项是在20191112日星期二在德国慕尼黑举行的productronica颁奖典礼上颁发给公司的。

全新开发的新型FF70 CL X射线检查系统可以对这些样品中最小和最苛刻的特征进行最佳自动化分析。结果:出色的精确度和可重复性的卓越测试和检查。半导体制造需要自动化,高质量,可靠,快速且无损的检查和分析,以实现最佳生产,因为可以在晶圆,基板,子组件中的条带或最终设备中发现缺陷。

   FF70 CL
的特点是其较大的检测区域为510 x 610毫米,极端细节体积的可检测性为<0.3 µm³,使其非常适合自动和非破坏性地分析3D IC,倒装芯片中的焊料凸点和填充过孔和晶圆。

   FF70 CL
2D(自上而下)的高性能平板电脑提供了3DCL计算的Laminography)自动分析功能,在特殊的操作组件中使用高分辨率图像增强器对其倾斜旋转进行了分析。

   全球技术奖计划于2005年首次亮相,是对电子表面贴装组装产品卓越奖的年度庆祝活动。由杰出的行业专家小组选择基于最佳技术创新范例的优质产品。





下一篇:FF70 CL 荣获墨西哥技术奖

更多

服务热线

400 8816 976

微信服务号